電子元器件專用冷熱沖擊試驗(yàn)箱

一、 產(chǎn)品詳情與用途

本產(chǎn)品是專為電子元器件可靠性測試而設(shè)計(jì)的高精度環(huán)境模擬設(shè)備。它通過極快的速度在高溫和低溫兩種環(huán)境之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換，模擬元器件在運(yùn)輸、存儲、啟動和運(yùn)行過程中可能遭遇的劇烈溫度變化，從而加速暴露其潛在缺陷，如材料開裂、焊接點(diǎn)疲勞、性能漂移等，是評估產(chǎn)品可靠性與耐久性的關(guān)鍵設(shè)備。

二、 技術(shù)特點(diǎn)

1. 極速轉(zhuǎn)換：采用三箱式（預(yù)冷區(qū)、預(yù)熱區(qū)、測試區(qū)）或提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)換時(shí)間通常小于10秒，溫度恢復(fù)時(shí)間極短，確保測試嚴(yán)苛性。

2. 精準(zhǔn)控溫：進(jìn)口精密溫控儀與高性能傳感器，確保箱內(nèi)溫度分布均勻，偏差小，測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

3. 高效制冷：采用法國泰康或德國比澤爾等品牌復(fù)疊式壓縮機(jī)制冷系統(tǒng)，確保快速達(dá)到低溫并能長期穩(wěn)定運(yùn)行。

4. 人性化操作：大型彩色觸摸屏，圖形化界面，程序編輯簡單直觀，可存儲多組測試參數(shù)，并具備遠(yuǎn)程監(jiān)控功能。

5. 安全可靠：具備多重安全保護(hù)（超溫、過流、缺相、漏電等），高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，確保設(shè)備與試件。

電子元器件專用冷熱沖擊試驗(yàn)箱

三、 箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 內(nèi)箱材質(zhì)：采用SUS304#高級不銹鋼板，耐腐蝕、耐高低溫，易于清潔。

• 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板經(jīng)防銹處理后噴涂，外觀美觀且堅(jiān)固耐用。

• 保溫層：高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡，保溫性能，有效減少能耗并防止箱體外壁凝露。

• 密封設(shè)計(jì)：高性能硅橡膠密封條，確保測試區(qū)氣密性，防止溫度泄漏。

四、 技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫箱：+60℃ ~ +200℃；低溫箱：-10℃ ~ -65℃

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間：＜10秒（從高溫到低溫或反之）

• 溫度恢復(fù)時(shí)間：＜5分鐘（恢復(fù)至設(shè)定溫度）

• 內(nèi)箱尺寸：可根據(jù)需求定制（如40*40*40cm, 50*50*50cm等）

• 溫度波動度：±0.5℃

• 溫度均勻度：±2.0℃

• 冷卻方式：風(fēng)冷（或水冷）

• 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GJB 150.5等國內(nèi)外測試標(biāo)準(zhǔn)。

五、 應(yīng)用場景與領(lǐng)域

本設(shè)備廣泛應(yīng)用于所有需要對電子元器件及組件進(jìn)行質(zhì)量驗(yàn)證和可靠性篩選的場景：

• 半導(dǎo)體行業(yè)：IC集成電路、芯片、二極管、三極管的可靠性測試。

• 通信行業(yè)：5G模塊、光通信器件、路由器、交換機(jī)內(nèi)部元器件的品質(zhì)評估。

• 汽車電子：發(fā)動機(jī)控制單元(ECU)、傳感器、車載顯示屏在溫度下的性能測試。

• 消費(fèi)電子：手機(jī)、筆記本電腦、平板電腦的PCB板、BGA封裝、電容、電阻的失效分析。