小型恒溫恒濕箱電子芯片環(huán)境老化測試儀

小型恒溫恒濕箱電子芯片環(huán)境老化測試儀是專為電子芯片研發(fā)、生產(chǎn)打造的緊湊型環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，機(jī)身小巧（常見尺寸約 500×400×600mm），適配實(shí)驗(yàn)室、車間等有限空間，采用不銹鋼內(nèi)膽與高精度控溫控濕系統(tǒng)，可模擬高低溫、濕熱循環(huán)等復(fù)雜環(huán)境，精準(zhǔn)檢測芯片在長期使用中的性能穩(wěn)定性。

產(chǎn)品型號：SMC-50PF
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-09-28
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詳細(xì)介紹

小型恒溫恒濕箱電子芯片環(huán)境老化測試儀

一、產(chǎn)品詳情

小型恒溫恒濕箱是專為電子芯片研發(fā)、生產(chǎn)打造的緊湊型環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，機(jī)身小巧（常見尺寸約 500×400×600mm），適配實(shí)驗(yàn)室、車間等有限空間，采用不銹鋼內(nèi)膽與高精度控溫控濕系統(tǒng)，可模擬高低溫、濕熱循環(huán)等復(fù)雜環(huán)境，精準(zhǔn)檢測芯片在長期使用中的性能穩(wěn)定性。

二、用途

核心用于電子芯片環(huán)境老化測試，通過模擬高溫（-20℃~150℃）、高濕（20% RH~98% RH）等工況，加速芯片老化進(jìn)程，提前暴露芯片因溫濕度變化引發(fā)的性能衰減、短路、漏電等問題，為芯片質(zhì)量篩選、壽命評估及可靠性改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支撐。

小型恒溫恒濕箱電子芯片環(huán)境老化測試儀

三、技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-20℃~150℃（控溫精度 ±0.5℃）；

濕度范圍：20% RH~98% RH（控濕精度 ±3% RH）；

升溫速率：5℃/min（Max），降溫速率：3℃/min（Max）；

工作室容積：50~100L，電源：220V/50Hz；

控溫系統(tǒng)：PID 智能溫控，配備進(jìn)口傳感器。

四、應(yīng)用場景

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)廠、電子研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、芯片檢測機(jī)構(gòu)、消費(fèi)電子企業(yè)等，可針對 MCU 芯片、存儲芯片、功率芯片等各類電子芯片，開展出廠前質(zhì)量抽檢、研發(fā)階段可靠性驗(yàn)證及失效分析試驗(yàn)。

五、技術(shù)特點(diǎn)