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大型高低溫試驗箱 芯片可靠性測試系統

大型高低溫試驗箱 芯片可靠性測試系統
?是專為芯片研發、生產與質量檢測打造的環境試驗設備。箱體采用高強度耐腐蝕材料制成,具備密閉性與隔熱性,能有效抵御外界環境干擾,確保內部試驗環境穩定。內部空間寬敞,可同時容納多組芯片樣品進行測試,配備高精度溫度、濕度傳感器與智能控制系統,能夠精準調控試驗環境,實現對芯片在復雜溫濕度條件下的可靠性評估。

  • 產品型號:THC-80PF-D
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-08-19
  • 訪  問  量:525
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詳細介紹

大型高低溫試驗箱 芯片可靠性測試系統


用途

該系統主要用于模擬芯片在不同環境下的工作狀態,測試芯片在高溫、低溫、高濕、低濕等環境下的電氣性能、物理性能及可靠性。在芯片研發階段,幫助工程師發現潛在問題,優化設計方案;在生產環節,對芯片成品進行抽檢或全檢,確保產品質量達標;在失效分析中,通過模擬故障環境,找出芯片失效原因,為改進生產工藝提供依據。



大型高低溫試驗箱 芯片可靠性測試系統

技術參數

  • 溫度范圍:-70℃ - 150℃,溫度波動度≤±0.5℃,溫度均勻度≤±2℃,可滿足芯片在極寒與高溫環境下的測試需求。

  • 濕度范圍:20% - 98% RH,濕度偏差 ±2% - 3% RH,能模擬多種潮濕環境條件。

  • 升降溫速率:0.7℃ - 1.0℃/min(全程平均),可達 5℃ - 10℃/min,快速實現溫變測試。

  • 工作室尺寸:根據實際需求定制,常見規格如 1000mm×1000mm×1000mm,滿足不同數量芯片樣品測試。


大型高低溫試驗箱 芯片可靠性測試系統



加濕系統

采用蒸汽加濕方式,通過電加熱管將水加熱產生蒸汽,蒸汽經管道輸送至試驗箱內部。智能控制系統根據設定濕度值,精確控制蒸汽的產生量與輸送速度,實現對試驗箱內濕度的精準調節。該系統具有加濕速度快、濕度均勻性好、穩定性強等特點,可在短時間內將試驗箱內濕度提升至設定值,并保持穩定,為芯片可靠性測試提供可靠的高濕環境。
工作原理
系統通過制冷與制熱系統實現溫度調節。制冷系統采用壓縮機制冷技術,通過制冷劑的蒸發與冷凝循環,吸收箱內熱量,達到降溫目的;制熱系統則利用電加熱元件,將電能轉化為熱能,對箱內空氣進行加熱。溫濕度傳感器實時監測箱內環境參數,并將數據反饋給智能控制系統。控制系統根據設定參數與反饋數據,自動調節制冷、制熱、加濕設備的運行狀態,使試驗箱內溫濕度始終保持在設定范圍內,從而為芯片提供穩定、可控的測試環境,完成芯片在不同溫濕度條件下的可靠性測試。


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