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冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備

冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備專為芯片可靠性測試設計的冷熱沖擊試驗箱，采用三箱式獨立控溫結構，可精準模擬 - 70℃至 150℃溫度環境，快速實現高溫區、低溫區與測試區的冷熱轉換，滿足芯片在不同溫度條件下的可靠性檢測需求。箱體采用高強度不銹鋼材質，具備良好的耐腐蝕性與密封性，確保測試環境穩定，同時配備 7 寸觸摸屏智能操控系統，操作便捷直觀。

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2025-08-19
  • 訪  問  量：501
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詳細介紹

冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備

一、產品詳情

專為芯片可靠性測試設計的冷熱沖擊試驗箱，采用三箱式獨立控溫結構，可精準模擬 - 70℃至 150℃溫度環境，快速實現高溫區、低溫區與測試區的冷熱轉換，滿足芯片在不同溫度條件下的可靠性檢測需求。箱體采用高強度不銹鋼材質，具備良好的耐腐蝕性與密封性，確保測試環境穩定，同時配備 7 寸觸摸屏智能操控系統，操作便捷直觀。



冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備

二、工作原理

設備通過制冷系統與加熱系統協同運作，高溫區與低溫區預先分別維持設定的高溫和低溫環境。當芯片需進行冷熱沖擊測試時，通過氣動裝置快速將芯片送入高溫區或低溫區，在規定時間內完成溫度沖擊，模擬芯片在實際應用中可能遭遇的溫度驟變場景，從而檢測芯片內部材料的熱膨脹系數匹配性、焊點可靠性等性能。
三、主要功能及特點

  1. 快速溫變：溫變速率高達 15℃/min，大幅縮短測試周期，提升檢測效率。

  1. 精準控溫：溫度波動度 ±0.5℃，均勻度 ±2℃，確保測試結果的準確性與一致性。

  1. 多段編程：支持自定義多段溫度循環程序，靈活適配不同芯片測試標準。

  1. 安全防護：具備超溫保護、漏電保護等多重安全機制，保障設備與人員安全。



四、應用場景

適用于芯片研發階段的性能驗證，確保新設計芯片的可靠性；在芯片量產環節，可進行批量抽檢，把控產品質量；此外，還能用于失效分析，幫助定位芯片因溫度應力導致的故障原因。
五、技術特點
采用進口壓縮機與環保冷媒，制冷效率高且節能環保；運用 PID 智能控溫算法，實現高精度溫度控制；配備智能故障診斷系統，可快速定位設備故障并報警提示。
六、應用領域
廣泛應用于半導體制造、集成電路設計、消費電子、汽車電子、航空航天等領域，滿足不同行業對芯片可靠性的嚴格要求，助力企業提升產品質量與競爭力。


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